Descripción
Frecuencia fuente de prueba de 1 MHz a 3 GHz
Velocidad de 0.5 mseg (tiempo de medición analógica)
0.07% de variabilidad del valor medido (cuando se mide una bobina de 1 nH a 3 GHz)
± 0.65% rdg. precisión básica
Contact check: pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda; permiten determinar el correcto contacto entre el espécimen y las terminales de prueba.
Realizar barridos de frecuencia, barridos de nivel e intervalos de tiempo en el modo Analizador
- Incluye:
Cabezal de prueba
Manual de instrucciones
Disco de aplicación LCR (manual de usuario de comunicaciones)
Cable de alimentación
Cable de conexión (2m)
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