Hioki IM7587-02

Descripción

Frecuencia fuente de prueba de 1 MHz a 3 GHz
Velocidad de 0.5 mseg (tiempo de medición analógica)
0.07% de variabilidad del valor medido (cuando se mide una bobina de 1 nH a 3 GHz)
± 0.65% rdg. precisión básica
Contact check: pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda; permiten determinar el correcto contacto entre el espécimen y las terminales de prueba.
Realizar barridos de frecuencia, barridos de nivel e intervalos de tiempo en el modo Analizador

• Incluye:
  Cabezal de prueba
  Manual de instrucciones
  Disco de aplicación LCR (manual de usuario de comunicaciones)
  Cable de alimentación
  Cable de conexión (2m)